安捷倫Agilent 5800 ICP-OES通過利用氙氣的等離子體激發元素并獲得元素特征譜線，然后通過分光系統和檢測器對這些特征譜線進行分辨和測量，從而實現樣品中多種元素的定性和定量分析。由于元素會有多條發射譜線，可能會與其他元素產生干擾或重疊，因此需要進行干擾校正以提高分析的準確性。